آزمون یکی ازمراحل مهم در تولید مدارهاي VLSI است. در مدار هاي خود آزمون داخلی مسایل مهمی مانند مساحت مدار آزمون و توان مصرفی مورد توجه قرار می گیرد. در این مقاله ساختار جدیدي براي تولید بردارهاي آزمون ارایه شده است که نسبت به ساختار هاي قبلی از کارایی بالاتري برخوردار می باشد.
الهام زمانی دوست
دانشگاه شهید بهشتی، دانشکده برق و کامپیوتر
