دسترسي به نقاط تست در سطح وسيع و كامل در هنگام تست بردهاي مدار چاپي از اهداف مهم در طراحي يك برد مدار چاپي محسوب مي شود. زماني كه دسترسي به نقاط تست در روي برد مدار چاپي كامل نباشد در اين صورت روشهاي تست معمول براي تست بردهاي مدار چاپي كارآيي لازم را نخواهد داشت، بنابراين بايد شيوه جديدي جهت تست جستجو كرد. روش پيشنهادي در اين مقاله تست بردهاي مدار چاپي كه المانهاي آنها منطبق بر استاندارد IEEE 1149.1 هستند را با استفاده از چهار خط (خط پنجم اختياري) و بدون نياز به دسترسي فيزيكي مقدور مي سازد .IC هاي به كار رفته در طراحي بردهايي كه با استفاده از اين روش تست مي شوند بايد داراي ساختمان خاصي باشند تا بتوانند دستورالعملهايي كه در اين استاندارد تعريف مي شوند را اجرا كنند. نتايج حاصله از طراحي و شبيه سازي IC نمونه جهت تست جاروب مرزي (Boundary-scan test) در مقاله آمده است. همچنين محدوديتهايي كه اين نوع تست از جهت پالس ساعت و تعداد سلولها دارد ارائه ميشود.
سميه رحماني خوجين و سعيد گلمحمدي هريس
مركز تحقيقات مخابرات ايران، دانشگاه تربيت مدرس تهران، گروه الكترونيك , دانشگاه تربيت معلم آذربايجان